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內(nèi)藏砝碼校正中的誤差修正方法:
1.浮力的影響
由于質(zhì)量是在大氣中測(cè)量的,因此,就必須考慮空氣浮力的影響。但是內(nèi)藏砝碼是用同*種材料制做的,因此,它的密度是相同的,同時(shí),砝碼的質(zhì)量是經(jīng)過嚴(yán)格調(diào)整的,而且在*組測(cè)量中,大約只需要30min的時(shí)間,通過實(shí)際的計(jì)算和分析,如在測(cè)量過程中,空氣密度的變化小于1%,那么,浮力修正量就非常小,沒有必要進(jìn)行修正。
2.重力的影響
直讀天平的內(nèi)藏砝碼是放在秤盤的上方,因此,內(nèi)藏砝碼與放在秤盤上的被稱物不可能在同*水平面上。由于這個(gè)*度差使重力加速度不同,因此,把內(nèi)藏砝碼取出來進(jìn)行檢定時(shí),有必要進(jìn)行重力修正。但是,在本方法中,是把內(nèi)藏砝碼進(jìn)行組合測(cè)量的,在測(cè)量值中已經(jīng)包含有重力修正量,因此,就不需修正。
為了比較這種檢定方法和過去的方法*產(chǎn)生的誤差大小,可以根據(jù)內(nèi)藏砝碼的組成,把前面*得到的質(zhì)量差的測(cè)量數(shù)據(jù)寫成觀測(cè)式,然后用*小二乘法求解,來檢定各個(gè)內(nèi)藏砝碼,把與各個(gè)指示值相對(duì)應(yīng)的砝碼進(jìn)行組合,就能求出與(10)式的Cm(n)相對(duì)應(yīng)的系數(shù)。在圖1中用黑圓點(diǎn)表示,從圖看出,本方法*得到的系數(shù)偏大,但在*大值上幾乎是相同的。因此,如果用*大誤差來評(píng)定,那么這兩種方法是差不多的。
本檢定方法存在-*個(gè)問題,就是為了使校正值有*個(gè)確定的數(shù)值,因此就不能根據(jù)*組觀測(cè)值來評(píng)價(jià)誤差的大小,這是*個(gè)缺點(diǎn)。為此,必須用別的方法進(jìn)行重復(fù)測(cè)量,來估算它的重復(fù)性。
2.第2位以后的情況
對(duì)于第2位的校正值,它的校正誤差em-1(n)取決于標(biāo)準(zhǔn)器Um-1(口)的校正誤差和這*位的隨機(jī)測(cè)量誤差。
標(biāo)準(zhǔn)器*引起的誤差,隨前*位中的差分方程式的個(gè)數(shù)成反比例減小,校正倍數(shù)增加,它就顯著減小。因此,對(duì)第2位以后的各位進(jìn)行校正時(shí),標(biāo)準(zhǔn)器的不確定度*產(chǎn)生的影響幾乎可以忽略。
對(duì)于隨機(jī)誤差產(chǎn)生的影響通常在評(píng)價(jià)下*位的校正誤差時(shí),可以不考慮前面第2位的隨機(jī)誤差*產(chǎn)生的影響,而只要考慮前*位隨機(jī)誤差對(duì)它的影響就可以了。
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