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裝置誤差對砝碼檢定結果有何影響：

　　裝置誤差指計量器具及其附件本身機構上不夠完善，或者安裝、調整不得當*引起的誤差。對計量檢定工作，采用的計量標準器具*提供的標準量值不是**，它隨時間和隨空間位置變化時也不是*穩(wěn)定，存在著誤差。計量標準裝置的配套設備及附件也會引起誤差，這些誤差就是*謂的計量標準誤差，會傳遞給被檢定的計量器具。對于砝碼檢定工作來說，引起裝置誤差的因素主要是檢定*用標準砝碼的*性問題和檢定時*用天平的計量性能可靠問題。

　　針對M2等級砝碼的檢定來說，在檢定前，*先應確定*使用的F1等級標準砝碼是否有具備檢定資質的計量技術機構的檢定合格證書及證書是否在有效期內；是否*直在妥善使用或保管并認真查看其儀器使用記錄表格，對儀器使用狀況做到胸有成竹。另外，*配套的機械天平*般為（TG328A/B、TG332A型）或相對應的萬分*和十萬分*的電子天平(推薦賽多利斯天平*)。機械天平的標尺分度值、天平的不等臂性誤差、天平的示值誤差和電子天平的偏載誤差、重復性、示值誤差都會對砝碼檢定結果的*性帶來較大的影響，*以，查看*用天平是否具有有效期內的檢定證書，并在砝碼檢定前，再次詳細的對*用天平的主要參數(shù)進行檢定或自檢，達到減少或消除裝置誤差的目的